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利用菊池衍射花样鉴定晶体结构的方法研究
彭帆, 曾毅
无机材料学报    2021, 36 (11): 1193-1198.   DOI:10.15541/jim20210080
摘要   (615 HTML21 PDF(pc) (5266KB)(972)  

电子背散射衍射(Electron Backscatter Diffraction, EBSD)是研究材料显微结构的重要手段之一, 通过EBSD获取的菊池衍射花样是材料内部微观晶体结构的直观反映。本研究通过识别菊池花样中的对称轴, 结合晶体对称定律, 提出了一种利用菊池花样进行晶体对称性分析和晶体结构鉴定的方法。通过该方法成功对三个未知样品的对称性和晶体结构进行了判断。其中一个样品确定到所属晶系, 另两个样品锁定到部分点群, 通过确定晶系和点群排除了部分不符合对称性的相鉴定结果。研究结果表明, 利用菊池花样进行对称性分析是判断晶体结构的有效方法。同现有方法相比, 菊池衍射花样法大大缩小了相鉴定的检索范围, 显著提高了相鉴定的准确性和可靠性, 是一种有望用于新一代EBSD设备的标定技术。



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图4 对称轴识别结果
正文中引用本图/表的段落
选取三个未知样品(样品a、样品b、样品c)获取多幅菊池花样, 已知每个样品只含有一种相。通过装配在扫描电镜上的牛津EBSD系统采集菊池花样, 加速电压为20 kV。对上述三个未知样品进行对称性分析和晶体结构鉴定。根据对称轴对应菊池极的几何特征, 必要时结合菊池带夹角关系和晶面族关系, 对所获取的菊池花样中的对称轴进行了识别。对称轴之间的夹角可以通过菊池极坐标进行矢量计算获得。对称轴的识别结果如图4所示。
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