摘要: 通过FT-IR、XPS和荧光光谱研究了离子注入对纳米Si3N4结构的影响.发现离子注入改变了材料中游离硅(a-Si)的结构,使其变成了SiNn(n=1,2).荧光谱研究表明纳米Si3N4具有明显的量子限制效应,并且荧光峰的位置和强度存在不稳定性.根据实验结果给出了纳米Si3N4的能级结构图.
中图分类号:
涂鲜花,李道火,赵华珍,詹明生. 离子注入对纳米Si3N4结构的影响[J]. 无机材料学报.
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